北京君正取得USBOTG测试方法专利,满足了芯片自动化测试的要求
2024年2月28日消息,据国家知识产权局公告,北京君正(300223)集成电路股份有限公司取得一项名为“一种USBOTG测试方法“,授权公告号CN113820583B,申请日期为2020年6月。
专利摘要显示,本发明提供一种USB OTG测试方法,所述方法包括以下步骤:S1,将一个GPIO作为一个开关并配成输出口,连接到待测芯片的两根数据线与两个USB连接器之间;S2,所述两个USB连接器分别连接PC机和U盘;S3,通过程序控制由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向;S4,通过GPIO的电平变化,所述开关打到第一位置连接到连个USB连接器中连接PC机的一个;或是打到第二位置连接到两个USB连接器中连接U盘的另一个,完成USB OTG测试。满足了芯片自动化测试的要求,方法简单操作方便。
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