成都 2025 ICCAD-Expo丨和林微纳展示测试技术领先实力
来源：
和林微纳官微
中性
成都 2025 ICCAD-Expo 已顺利落下帷幕，和林微纳有幸与众多同行深入交流产品相关信息，共同探讨半导体行业的发展趋势。
在“2025 ICCAD-Expo 先进封装与测试（二）”论坛中，和林微纳精微测试事业部研发总监蔡泓羿详细介绍了Z系列异形针在射频芯片测试领域的应用情况，呈现了公司在测试技术与解决方案方面的领先实力。
展会期间，和林微纳积极与多家行业伙伴及潜在客户沟通，共同探讨了最新技术趋势和潜在合作方向。公司所展示的探针、测试座等产品，吸引了众多参展嘉宾关注。
和林微纳对 ICCAD-Expo 所提供的交流平台表示感谢，该平台为我们与行业伙伴深入交流创造了宝贵机会。公司期待在未来活动中能携手更多业界同仁，共同推动半导体行业发展，并期待再次相聚。
0人
