核心导读

近日，2026 年江苏省普通高等教育本科省级规划教材评选结果正式公布，由广电计量（002967）联合南京大学、哈尔滨工业大学、上海交通大学等国内顶尖高校专家团队联合编写的《聚焦离子束：应用与实践》成功入选。作为国内聚焦离子束（FIB）领域系列专著的开篇之作，此次获评不仅是对其教学价值、学术价值与产业实践价值的权威认可，更是广电计量（002967）深耕半导体（881121）检测领域，推动校企产学研用深度融合、协同创新的标志性成果。

《聚焦离子束：应用与实践》是国内首部FIB领域专业著作，由广电计量（002967）与顶尖高校联合编撰。自出版以来便被南京大学、哈尔滨工业大学、上海交通大学等多所高校选定为课程教辅用书，构建了FIB技术从理论原理到实操应用的完整知识体系，填补了国内该领域系统化、实践型专业著作的空白。

以此为起点，广电计量（002967）始终作为唯一参编企业单位，持续深化校企产学研用协同机制，联动高校专家团队继续推出《聚焦离子束：失效分析》《聚焦离子束：芯片检测》两部系列专著，形成了覆盖“基础教学—科研攻关—产业应用”的全链条FIB技术知识体系；整套著作深度融合高校的学术理论纵深与广电计量（002967）在半导体（881121）产业一线的海量实践成果，既为高校人才培养、科研创新提供了权威体系化的教学与研究蓝本，也为芯片失效分等产业核心场景提供了可落地的实操指引，真正实现了“学、研、产、用”的闭环融合，为国内FIB技术的普及、人才梯队建设与产业核心技术突破提供了系统性支撑。

FIB系列专著

全链条知识体系

系列专著的持续产出与权威认可，源于广电计量（002967）在半导体（881121）检测领域深耕多年构建的产学研用一体化核心能力。作为国内半导体（881121）集成电路领域技术能力最全面的上市第三方检测机构之一，广电计量（002967）打造了一支兼具学术研究能力与产业实践经验的专家团队，由陈振博士、刘辰博士等核心技术骨干领衔，深度联动高校科研团队，成为衔接学术研究与产业应用的核心纽带；硬件平台方面，搭建了行业领先的芯片显微分析技术平台，配备透射电子显微镜（TEM）、赛默飞 Helios G5 系列双束聚焦离子束（DB FIB）等国际顶尖设备，配套专业芯片分析设备 300余套，既为高校科研攻关提供了先进的实验支撑，也为产业端提供了纳米级精度的检测分析服务。

依托产学研用一体化的技术体系，广电计量（002967）实现了科研成果与产业需求的高效双向转化，可提供覆盖芯片研发到量产全生命周期（883436）、器件级到系统级全维度的检测分析服务，核心能力覆盖3nm及以上制程芯片TEM分析、FIB失效分等关键环节，服务客群涵盖国内头部晶圆厂、芯片设计企业、科研院所等半导体（881121）全产业链主体，服务产品覆盖AI高算力芯片、功率器件、车规芯片等核心品类。同时，广电计量（002967）拥有工业和信息化部 “面向集成电路、芯片产业的公共服务平台” 等多项国家级、省级平台资质，深度参与半导体（881121）领域的技术标准建设、人才培养与产业公共服务，持续推动 FIB 技术的国产化应用与创新突破。